Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測量系統

Bowman XRF高精度鍍層測量儀介紹：

Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測量系統在高度不超過9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可測量區域。自動多準直器允許選擇光斑尺寸，以適應各種特征尺寸;可變焦攝像頭允許在0.25英寸到3.5英寸的焦距范圍內進行測量。伺服電機驅動的可編程平臺可實現快速、準確的可編程樣品定位。懸臂門設計方便操作人員進行樣品放置

表格視圖功能可對整個可測量區域進行成像，操作員只需單擊鼠標即可導航到任何位置。內置操縱桿可讓操作員從系統的控制面板上移動XY平臺，而無需軟件干預。與所有其他Bowman XRF 系統一樣，K系列高精度鍍層測量系統符合ASTMB568、ISO3497和IPC-4552標準。

Bowman XRF高精度鍍層測量儀主要功能：

• XYZ行程：X：12英寸（304mm）Y：12英寸（304mm）Z：9英寸（228mm）

• 可選配帶工作臺視圖的雙攝像頭

• 伺服電機驅動的可編程工作臺，移動精確、快速、平穩

• 內腔尺寸（WDH）：24英寸（609mm）、24英寸（609mm）、9英寸（228mm）

• 工作臺尺寸：12英寸（304.8mm）x12英寸（304.8mm）

• 高分辨率硅漂移探測器（SDD）

• 封閉式腔體設計

• 可同時測量多達5個涂層

• 可選內置操縱桿

• 可選內置電子停止裝置

• 懸臂門便于樣品存取

• 提供RoHS選件

Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測量系統優勢：

XRF系統

高分辨率的固態探測器具有良好的元素分辨能力，無需二次濾波器。峰位長時間保持穩定，無需頻繁地進行再校準。X射線管和探測器的閉合耦合幾何布局提供了更多的光子數量。這使得Bowman系統能夠以相對短的測量時間實現低的檢測限和相對高的精度。

直觀的用戶界面

軟件將為儀器的性能提供有力的支持。Bowman鍍層測厚儀的分析數據擁有功能豐富的軟件作為支持，該軟件將擁有直觀的用戶界面，操作簡單友好。測量數據可通過批次號進行檢索，報告可一鍵生成。用戶可以無限制地創建新的應用程序和報告格式，所有結果自動保存到電腦數據庫，所有用戶級別都可以設置密碼保護。

廣泛的鍍層厚度測量范圍

BowmanXRF高精度鍍層測量系統可對13號鋁元素到92號鈾元素進行高精度測量分析。

• 單層鍍層：Au，Ag，Ni，Cu，Sn，Zn等

• 合金鍍層：ZnNi合金，SnPb合金等鍍層厚度和成分比例同時分析

• 雙層鍍層：Au/Ni/Cu，Sn/Ni/Cu，Cr/Ni/Fe等

• 三層鍍層：Au/Pd/Ni/Cu等

• 至多可分析5層鍍層

• 可同時分析25種元素成分

• 可分析電鍍溶液中的金屬離子濃度

• 可分析ROHS有害元素

Bowman XRF 高精度鍍層測量服務支持：

Bowman為用戶提供XRF技術支持和服務。目前，除美國芝加哥總部外，Bowman已在全球四大洲二十余個國家建立了辦事處或機構。Bowman始終致力于通過提供現場技術支持服務。Bowman在中國上海設有演示應用中心，培訓中心及備品配件庫，在深圳，杭州，西安設有辦事。有能力為客戶提供良好的的鍍層厚度檢測方案和快速良好的售后服務。

配置：

Bowman K系列XRF高精度鍍層測量系統的標準配置包括一個4位(4、8、12和24mil)多重準直器;可選尺寸為2x2mil至60mil?？勺兘咕啾阌谠诎枷輩^域進行測量。同服電機驅動的可編程平臺可通過可選的xyz程序進行零件測量。程序可使用模式匹配和自動對焦來確保測量的準確度。

與所有Bowman XRF高精度鍍層測量系統一樣，K系列配備了標準的硅漂移探測器(SDD)和長壽命微聚焦x射線管。

測量原理：

?BowmanXRF射線裝置利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。當高能X射線照射金屬薄膜表面時，入射光子擊出薄膜或基底材料原子的內層電子形成空穴。外層電子躍遷填補空穴時釋放特征X射線熒光，其能量與元素的原子序數一一對應，通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分。

?行業應用：

產品參數：

系統實機圖：